A method for side effect analysis based on electric field simulations for intraoperative test stimulation in deep brain stimulation surger y
Vorschaubild nicht verfügbar
Autor:innen
Alonso, Fabiola
Wårdell, Karin
Coste, Jérôme
Lemaire, Jean-Jaques
Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
2015
Typ der Arbeit
Studiengang
Typ
04 - Beitrag Sammelband oder Konferenzschrift
Herausgeber:innen
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering (IUPESM)
Themenheft
DOI der Originalpublikation
Reihe / Serie
Reihennummer
Jahrgang / Band
Ausgabe / Nummer
Seiten / Dauer
Patentnummer
Verlag / Herausgebende Institution
Verlagsort / Veranstaltungsort
Toronto
Auflage
Version
Programmiersprache
Abtretungsempfänger:in
Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
Veranstaltung
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
Startdatum der Konferenz
Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
Sprache
Deutsch
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Ja
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Begutachtung
Keine Begutachtung
Open Access-Status
Lizenz
Zitation
PISON, Daniela, Fabiola ALONSO, Karin WÅRDELL, Ashesh SHAH, Jérôme COSTE, Jean-Jaques LEMAIRE, Erik SCHKOMMODAU und Simone HEMM-ODE, 2015. A method for side effect analysis based on electric field simulations for intraoperative test stimulation in deep brain stimulation surger y. In: World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering (IUPESM). Toronto. 2015. Verfügbar unter: http://hdl.handle.net/11654/11824