Sub-23 nm particles - do we need to consider them?

dc.contributor.authorBurtscher, Heinz
dc.date.accessioned2025-06-25T07:01:28Z
dc.date.issued2021-03-25
dc.event11th VERT Forum
dc.event.end2021-03-25
dc.event.start2021-03-25
dc.identifier.urihttps://irf.fhnw.ch/handle/11654/51606
dc.language.isoen
dc.spatialOnline
dc.subject.ddc600 - Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften
dc.subject.ddc620 - Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
dc.titleSub-23 nm particles - do we need to consider them?
dc.type06 - Präsentation
dspace.entity.typePublication
fhnw.InventedHereYes
fhnw.ReviewTypeAnonymous ex ante peer review of an abstract
fhnw.affiliation.hochschuleHochschule für Technik und Umwelt FHNWde_CH
fhnw.affiliation.institutInstitut für Sensorik und Elektronikde_CH
relation.isAuthorOfPublication7bcf855e-5eb6-4a5f-ba90-e93bec5fd0a6
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