Measuring a Small Number of Samples, and the 3σ Fallacy. Shedding Light on Confidence and Error Intervals

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Autor:innen
Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
2014
Typ der Arbeit
Studiengang
Sammlung
lnstitut für Sensorik und Elektronik
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Typ
01A - Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift
Herausgeber:innen
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
IEEE Solid-State Circuits Magazine
Themenheft
DOI der Originalpublikation
URI
http://hdl.handle.net/11654/17733
Link
Reihe / Serie
Reihennummer
Jahrgang / Band
6
Ausgabe / Nummer
2
Seiten / Dauer
52-58
Patentnummer
Verlag / Herausgebende Institution
IEEE
Verlagsort / Veranstaltungsort
Auflage
Version
Programmiersprache
Abtretungsempfänger:in
Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
Projekt
Veranstaltung
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
Startdatum der Konferenz
Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
1943-0590
1943-0582
Sprache
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Ja
Zukunftsfelder FHNW
Publikationsstatus
Begutachtung
Open Access-Status
Lizenz
Zitation
SCHMID, Hanspeter und Alexander HUBER, 2014. Measuring a Small Number of Samples, and the 3σ Fallacy. Shedding Light on Confidence and Error Intervals. IEEE Solid-State Circuits Magazine. 2014. Bd. 6, Nr. 2, S. 52–58. Verfügbar unter: http://hdl.handle.net/11654/17733
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