IEEE 1149.6 - New Boundary Scan Method to Test AC - Coupled Digital Networks

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Autor:innen
Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
2003
Typ der Arbeit
Studiengang
Sammlung
lnstitut für Sensorik und Elektronik
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Typ
04B - Beitrag Konferenzschrift
Herausgeber:innen
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
Themenheft
DOI der Originalpublikation
URI
http://hdl.handle.net/11654/17720
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Reihe / Serie
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Jahrgang / Band
Ausgabe / Nummer
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Verlag / Herausgebende Institution
Verlagsort / Veranstaltungsort
Winterthur
Auflage
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Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
Projekt
Veranstaltung
Technology Leadership Day
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
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Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
Sprache
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Ja
Zukunftsfelder FHNW
Publikationsstatus
Begutachtung
Open Access-Status
Lizenz
Zitation
BASLER, Rolf, 2003. IEEE 1149.6 - New Boundary Scan Method to Test AC - Coupled Digital Networks. In: Technology Leadership Day. Winterthur. 2003. Verfügbar unter: http://hdl.handle.net/11654/17720
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