Ion beam preparation procedures for three-dimensional SEM resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel microdiffraction analysis of deformed metals

dc.contributor.authorHauffe, Wolfgang
dc.contributor.authorSimons, Gerd
dc.contributor.authorKunze, Karsten
dc.contributor.authorLanger, Enrico
dc.contributor.authorMitro, R J
dc.date.accessioned2025-01-07T11:08:42Z
dc.date.issued2005-08
dc.identifier.doi10.1017/s1431927605500023
dc.identifier.issn1431-9276
dc.identifier.urihttps://irf.fhnw.ch/handle/11654/49555
dc.issueS02
dc.language.isoen
dc.publisherOxford University Press
dc.relation.ispartofMicroscopy and Microanalysis
dc.subject.ddc620 - Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
dc.titleIon beam preparation procedures for three-dimensional SEM resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel microdiffraction analysis of deformed metals
dc.type01A - Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift
dc.volume11
dspace.entity.typePublication
fhnw.InventedHereNo
fhnw.ReviewTypeAnonymous ex ante peer review of an abstract
fhnw.affiliation.hochschuleHochschule für Technik und Umwelt FHNWde_CH
fhnw.affiliation.institutInstitut für Sensorik und Elektronikde_CH
fhnw.openAccessCategoryClosed
fhnw.pagination840-841
fhnw.publicationStatePublished
relation.isAuthorOfPublication8254b01f-e888-4449-b010-67cbee8669fe
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Institut für Sensorik und Elektronik