Scanning gate microscope for cold atomic gases

dc.contributor.authorHäusler, Samuel
dc.contributor.authorNakajima, Shuta
dc.contributor.authorLebrat, Martin
dc.contributor.authorHusmann, Dominik
dc.contributor.authorKrinner, Sebastian
dc.contributor.authorEsslinger, Tilman
dc.contributor.authorBrantut, Jean-Philippe
dc.date.accessioned2025-04-23T13:32:24Z
dc.date.issued2017
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.1103/PhysRevLett.119.030403
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.issn1079-7114
dc.identifier.urihttps://irf.fhnw.ch/handle/11654/50942
dc.issue3
dc.language.isoen
dc.publisherAmerican Physical Society
dc.relation.ispartofPhysical Review Letters
dc.subject.ddc530 - Physik
dc.subject.ddc500 - Naturwissenschaften
dc.titleScanning gate microscope for cold atomic gases
dc.type01A - Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift
dc.volume119
dspace.entity.typePublication
fhnw.InventedHereNo
fhnw.ReviewTypeAnonymous ex ante peer review of a complete publication
fhnw.affiliation.hochschuleHochschule für Technik und Umwelt FHNWde_CH
fhnw.affiliation.institutlnstitut für Sensorik und Elektronikde_CH
fhnw.openAccessCategoryClosed
fhnw.publicationStatePublished
relation.isAuthorOfPublication258e0316-5cb9-4a16-926e-ddc66621a35a
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