Simplicity and sensitivity of the measurement and the metric used

dc.contributor.authorBurtscher, Heinz
dc.date.accessioned2025-06-27T13:26:28Z
dc.date.issued2025-03-28
dc.eventVERT Focus Day 2025, The DirtyTail Paradigm – A New Approach to Nanoparticle Emission Detection
dc.event.end2025-03-28
dc.event.start2025-03-28
dc.identifier.urihttps://irf.fhnw.ch/handle/11654/51593
dc.language.isoen
dc.spatialDübendorf
dc.subject.ddc600 - Technik
dc.subject.ddc620 - Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
dc.titleSimplicity and sensitivity of the measurement and the metric used
dc.type06 - Präsentation
dspace.entity.typePublication
fhnw.InventedHereNo
fhnw.ReviewTypeNo peer review
fhnw.affiliation.hochschuleHochschule für Technik und Umwelt FHNWde_CH
fhnw.affiliation.institutInstitut für Sensorik und Elektronikde_CH
relation.isAuthorOfPublication7bcf855e-5eb6-4a5f-ba90-e93bec5fd0a6
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