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Modeling the Effect of Strong Magnetic Field on N-Type MOSFET in Strong Inversion

Autor/Autorin
Pascal, Joris
Datum
12.2018
Metadata
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Type
06 - Präsentation
Link
https://www.ieee-icecs2018.org/uploads/1/7/9/2/17927367/booklet_icecs2018_final.pdf
URI
http://hdl.handle.net/11654/27335
Verlagsort / Veranstaltungsort
Bordeaux
Veranstaltung
25th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems
Zitation

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