IEEE 1149.6 - New Boundary Scan Method to Test AC - Coupled Digital Networks

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dc.contributor.authorBasler, Rolf
dc.date.accessioned2016-04-06T14:25:35Z
dc.date.available2016-04-06T14:25:35Z
dc.date.issued2003
dc.eventTechnology Leadership Day
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11654/17720
dc.spatialWinterthur
dc.titleIEEE 1149.6 - New Boundary Scan Method to Test AC - Coupled Digital Networks
dc.type04B - Beitrag Konferenzschrift
dspace.entity.typePublication
fhnw.InventedHereJa
fhnw.affiliation.hochschuleHochschule für Technikde_CH
fhnw.affiliation.institutlnstitut für Sensorik und Elektronikde_CH
relation.isAuthorOfPublication6ce10bb4-153e-4a58-a5cc-603b5acea80f
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery6ce10bb4-153e-4a58-a5cc-603b5acea80f
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