Ion beam preparation procedures for three-dimensional SEM resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel microdiffraction analysis of deformed metals
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Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
08/2005
Typ der Arbeit
Studiengang
Typ
01A - Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift
Herausgeber:innen
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
Microscopy and Microanalysis
Themenheft
DOI der Originalpublikation
Link
Reihe / Serie
Reihennummer
Jahrgang / Band
11
Ausgabe / Nummer
S02
Seiten / Dauer
840-841
Patentnummer
Verlag / Herausgebende Institution
Oxford University Press
Verlagsort / Veranstaltungsort
Auflage
Version
Programmiersprache
Abtretungsempfänger:in
Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
Veranstaltung
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
Startdatum der Konferenz
Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
1431-9276
Sprache
Englisch
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Nein
Zukunftsfelder FHNW
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Begutachtung
Peer-Review des Abstracts
Open Access-Status
Closed
Lizenz
Zitation
Hauffe, W., Simons, G., Kunze, K., Langer, E., & Mitro, R. J. (2005). Ion beam preparation procedures for three-dimensional SEM resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel microdiffraction analysis of deformed metals. Microscopy and Microanalysis, 11(S02), 840–841. https://doi.org/10.1017/s1431927605500023