Ion beam preparation procedures for three-dimensional SEM resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel microdiffraction analysis of deformed metals
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Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
08/2005
Typ der Arbeit
Studiengang
Typ
01A - Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift
Herausgeber:innen
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
Microscopy and Microanalysis
Themenheft
DOI der Originalpublikation
Link
Reihe / Serie
Reihennummer
Jahrgang / Band
11
Ausgabe / Nummer
S02
Seiten / Dauer
840-841
Patentnummer
Verlag / Herausgebende Institution
Oxford University Press
Verlagsort / Veranstaltungsort
Auflage
Version
Programmiersprache
Abtretungsempfänger:in
Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
620 - Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Veranstaltung
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
Startdatum der Konferenz
Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
1431-9276
Sprache
Englisch
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Nein
Zukunftsfelder FHNW
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Begutachtung
Peer-Review des Abstracts
Open Access-Status
Closed
Lizenz
Zitation
HAUFFE, Wolfgang, Gerd SIMONS, Karsten KUNZE, Enrico LANGER und R J MITRO, 2005. Ion beam preparation procedures for three-dimensional SEM resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel microdiffraction analysis of deformed metals. Microscopy and Microanalysis. August 2005. Bd. 11, Nr. S02, S. 840–841. DOI 10.1017/s1431927605500023. Verfügbar unter: https://irf.fhnw.ch/handle/11654/49555