AI makes its way into airport x-ray Screening

dc.contributor.authorSterchi, Yanik
dc.date.accessioned2025-01-17T15:23:46Z
dc.date.available2024-09-04T09:56:37Z
dc.date.issued2024-07-24
dc.description.urihttps://tsi-mag.com/back-copies/summer-2024/
dc.identifier.urihttps://irf.fhnw.ch/handle/11654/47156.2
dc.language.isoen
dc.publisherAerospace & Security Media
dc.relation.ispartofTransport Security International Magazine
dc.spatialBirkdale
dc.subject.ddc003 - Systeme
dc.subject.ddc600 - Technik
dc.titleAI makes its way into airport x-ray Screening
dc.type01B - Beitrag in Magazin oder Zeitung
dspace.entity.typePublication
fhnw.InventedHereYes
fhnw.ReviewTypeNo peer review
fhnw.affiliation.hochschuleHochschule für Angewandte Psychologie FHNWde_CH
fhnw.affiliation.institutInstitut Mensch in komplexen Systemende_CH
fhnw.openAccessCategoryClosed
fhnw.pagination20-26
fhnw.publicationStatePublished
fhnw.specialIssueX-ray screening. Leaping forward with AI/ML
relation.isAuthorOfPublicationb18dc34e-1b54-4c13-8786-68459a75da20
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2025-01-15 12:26:58
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