Affinity for Technology - a possible instrument to measure PATT (Pubils Attitude Towards Technology)?

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Autor:innen
Heitzmann, Anni
Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
2015
Typ der Arbeit
Studiengang
Typ
04B - Beitrag Konferenzschrift
Herausgeber:innen
de Vries, Marc J.
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
29th patt Conference Proceedings. Ecole Supérieure du Professorat et de l'Education, Marseille
Themenheft
DOI der Originalpublikation
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Reihe / Serie
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Jahrgang / Band
Ausgabe / Nummer
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Verlag / Herausgebende Institution
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Auflage
Version
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Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
370 - Erziehung, Schul- und Bildungswesen
Projekt
Veranstaltung
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
Startdatum der Konferenz
Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
Sprache
Deutsch
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Ja
Zukunftsfelder FHNW
Publikationsstatus
Unbekannt
Begutachtung
Peer-Review der ganzen Publikation
Open Access-Status
Lizenz
Zitation
GÜDEL, Karin und Anni HEITZMANN, 2015. Affinity for Technology - a possible instrument to measure PATT (Pubils Attitude Towards Technology)? In: Marc J. DE VRIES (Hrsg.), 29th patt Conference Proceedings. Ecole Supérieure du Professorat et de l’Education, Marseille. 2015. Verfügbar unter: http://hdl.handle.net/11654/13058