Scanning gate microscope for cold atomic gases
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Autor:in (Körperschaft)
Publikationsdatum
2017
Typ der Arbeit
Studiengang
Typ
01A - Beitrag in wissenschaftlicher Zeitschrift
Herausgeber:innen
Herausgeber:in (Körperschaft)
Betreuer:in
Übergeordnetes Werk
Physical Review Letters
Themenheft
DOI der Originalpublikation
Link
Reihe / Serie
Reihennummer
Jahrgang / Band
119
Ausgabe / Nummer
3
Seiten / Dauer
Patentnummer
Verlag / Herausgebende Institution
American Physical Society
Verlagsort / Veranstaltungsort
Auflage
Version
Programmiersprache
Abtretungsempfänger:in
Praxispartner:in/Auftraggeber:in
Schlagwörter
Fachgebiet (DDC)
Veranstaltung
Startdatum der Ausstellung
Enddatum der Ausstellung
Startdatum der Konferenz
Enddatum der Konferenz
Datum der letzten Prüfung
ISBN
ISSN
0031-9007
1079-7114
1079-7114
Sprache
Englisch
Während FHNW Zugehörigkeit erstellt
Nein
Zukunftsfelder FHNW
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Begutachtung
Peer-Review der ganzen Publikation
Open Access-Status
Closed
Lizenz
Zitation
Häusler, S., Nakajima, S., Lebrat, M., Husmann, D., Krinner, S., Esslinger, T., & Brantut, J.-P. (2017). Scanning gate microscope for cold atomic gases. Physical Review Letters, 119(3). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.119.030403